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应用范围
适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。
薄膜测厚仪GB/T6672：
主要特点
接触式测量原理
德国进口测厚传感器
触摸屏操作
扁平化人机交互界面显示
真彩色液晶显示试验数据、结果
手动、循环、预约定时多种测量模式
测试过程全自动完成
内嵌多种数据统计分析功能
本机内置历史数据查询功能
配置微型打印机，可自动打印单次、统计报告
配置标准通信接口
可支持DSM实验室数据管理系统，实现数据统一管理（选购）
技术指标
测量范围：0～2mm（标配）
0～10mm（可选）
分 辨 率：0.1μm
测量速度：1~25次/min（可调）
测 量 头：薄膜：50mm2，17.5±1kPa（标配）
纸张：200mm2，50±1kPa（可选）
薄膜测厚仪GB/T6672执行标准：
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
注：产品技术规格如有变更，恕不另行通知，SYSTESTER思克保留修改权与解释权！